Исследование межкристаллитных границ сверхпроводящей керамики методом атомно-силовой микроскопии

E. B. Благов, Ю. Н. Моисеев, В. М. Мостепаненко, В. И. Панов, И. Ю. Соколов

Реферативные базы данных:

•