RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив
Письма в ЖТФ, 1992, том 18, выпуск 17, страницы 25–28 (Mi pjtf4446)
ПЭВ — микроскопия среднего ИК диапазона

А. К. Никитин, А. А. Тищенко




Реферативные базы данных:

© МИАН, 2026