RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 1992, том 18, выпуск 8, страницы 77–81 (Mi pjtf4283)

Рентгеновская дифрактометрия изменений структуры приповерхностных слоев ионно-имплантированного кремния после импульсного лазерного отжига

В. А. Бушуев, А. П. Петраков




Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026