Аннотация:
Исследовано движение поверхности полупроводника в условиях
фотоакустического эффекта, происходящее вследствие теплового расширения
и непосредственного воздействия свободных электронов и дырок на решетку
через деформационный потенциал. Установлены основные закономерности
в зависимостях амплитуды и фазы смещения поверхности от частоты модуляции
света, связанные с электронными процессами переноса. Показано, что анализ
этих зависимостей позволяет определять такие характеристики полупроводника,
как время жизни носителей заряда, скорость поверхностной рекомбинации
и константы деформационного потенциала.