RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1987
, том 21,
выпуск 10,
страницы
1918–1920
(Mi phts933)
Краткие сообщения
Анализ контактной структуры AuGe
$-$
GaAs методом рентгено-фотоэлектронной спектроскопии
Р. Бинкис
, Г. Пятраускас
,
А. Сакалас
Полный текст:
PDF файл (320 kB)
©
МИАН
, 2026