RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1987, том 21, выпуск 10, страницы 1918–1920 (Mi phts933)

Краткие сообщения

Анализ контактной структуры AuGe$-$GaAs методом рентгено-фотоэлектронной спектроскопии

Р. Бинкис, Г. Пятраускас, А. Сакалас




© МИАН, 2026