RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 11, страницы 1543–1546 (Mi phts8985)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

XIV Ежегодный международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника-2010 г. Нижний Новгород (15-19 марта 2010 года)

Латеральный транспорт и дальнее инфракрасное излучение электронов в гетероструктурах In$_x$Ga$_{1-x}$As/GaAs с двойными туннельно-связанными квантовыми ямами в сильном электрическом поле

Н. В. Байдусьa, П. А. Белевскийb, А. А. Бирюковa, В. В. Вайнбергb, М. Н. Винославскийb, А. В. Иконниковc, Б. Н. Звонковa, А. С. Пилипчукb, В. Н. Порошинb

a Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, г. Нижний Новгород
b Институт физики НАН Украины, г. Киев
c Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород

Аннотация: Показано, что дальнее инфракрасное излучение электронов в селективно-легированных гетероструктурах с двойными туннельно-связанными квантовыми ямами в сильных латеральных электрических полях существенно зависит от степени легирования ям. При большой концентрации примеси в узкой яме, более (1–2) $\cdot$ 10$^{11}$ см$^{-2}$, излучение обусловлено только непрямыми внутриподзонными переходами электронов. При меньшей концентрации наряду с непрямыми переходами вклад в излучение дают и прямые межподзонные переходы, которые становятся возможными в сильных электрических полях вследствие пространственного переноса электронов между квантовыми ямами.

Поступила в редакцию: 08.04.2010
Принята в печать: 20.04.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:11, 1495–1498

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026