RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 11, страницы 1451–1454 (Mi phts8966)

Эта публикация цитируется в 11 статьях

XIV Ежегодный международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника-2010 г. Нижний Новгород (15-19 марта 2010 года)

Разогрев носителей заряда в квантовых ямах при оптической и токовой инжекции электронно-дырочных пар

Л. Е. Воробьевa, М. Я. Винниченкоa, Д. А. Фирсовa, В. Л. Зероваa, В. Ю. Паневинa, А. Н. Софроновa, П. Тхумронгсилапаa, В. М. Устиновb, А. Е. Жуковc, А. П. Васильевb, L. Shterengasd, G. Kipshidzed, T. Hosodad, G. Belenkyd

a Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
d Department of Electrical and Computer Engineering, State University of New York at Stony Brook, 11794 New York, USA

Аннотация: Исследован разогрев носителей заряда в квантовых ямах GaAs/AlGaAs при оптической межзонной накачке в режиме спонтанного излучения. Определена электронная температура как функция интенсивности накачки. Исследовано влияние электрического поля на спектр фотолюминесценции. По спектрам электролюминесценции определено изменение концентрации носителей заряда с током накачки в режимах спонтанного и стимулированного излучения в квантовых ямах InGaAsSb/InAlGaAsSb. Проведены оценки увеличения температуры горячих носителей заряда, вызывающего рост концентрации с током накачки.

Поступила в редакцию: 08.04.2010
Принята в печать: 12.04.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:11, 1402–1405

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026