RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 10, страницы 1436–1438 (Mi phts8963)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Электрические характеристики пленок мультиграфена на подложках высокоомного карбида кремния

А. А. Лебедев, А. М. Стрельчук, Д. В. Шамшур, Г. А. Оганесян, С. П. Лебедев, М. Г. Мынбаева, А. В. Садохин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Проведено исследование мультиграфеновых пленок, полученных сублимацией в вакууме поверхности полуизолирующих подложек 6H-SiC. Обнаружено, что пленки имеют полупроводниковый характер проводимости. Сделан вывод, что данный характер проводимости, предположительно, определяется дефектами между отдельными кристаллами графена, составляющими исследованные углеродные слои.

Поступила в редакцию: 16.03.2010
Принята в печать: 22.03.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:10, 1389–1391

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026