Аннотация:
Используя сканирующую Кельвин-зонд микроскопию в комнатных условиях, исследованы мерцания сигнала поверхностного потенциала над одиночными, 20–70 нанометровыми, Au-частицами в микроотверстиях перфорированного Au-контакта плоского конденсатора со структурой GaIn–$p$Si–SiO$_2$–Au. Обнаружено, что амплитуда мерцаний растет с уменьшением размера частицы, а также расстояния зонд–образец. Проанализирована связь мерцаний с тепловыми флуктуациями потенциала частицы и другими возможными источниками. Калибровка сигнала поверхностного потенциала на наноразмерном источнике мерцаний потенциала позволяла выявлять в экспериментальных данных отклик на элементарные скачки заряда.