Аннотация:
Показано, что экспериментально обнаруженная большая величина дисперсии длин пробегов дислокаций и затягивание ее выхода на стационарное значение в полупроводниковых материалах может объясняться стохастичностью процесса рождения дислокационных перегибов (кинков). Эта стохастичность приводит к развитию шероховатости линии дислокации, описываемой скейлинговыми соотношениями, включающими в себя мезоскопические временные и пространственные масштабы.
Поступила в редакцию: 04.03.2010 Принята в печать: 15.03.2010