Аморфные, стеклообразные, пористые, органические, микрокристаллические полупроводники, полупроводниковые композиты

Исследование рамановских спектров и спектров обратного резерфордовского рассеяния пленок аморфного углерода, модифицированного платиной

А. Д. Ременюк^a, Т. К. Звонарева^a, И. Т. Серенков^a, В. И. Сахаров^a, T. S. Perova^b, J. Vaselyuk<sup>b

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b Department of Electronic and Electrical Engineering, Trinity College, Dublin 2, Ireland

Аннотация: Измерены спектры рамановского рассеяния в области от 1000 до 1800 см$^{-1}$ на образцах аморфного углерода, модифицированного платиной в количествах, сравнимых с количеством углерода. Одновременно исследованы спектры обратного резерфордовского рассеяния. Показано, что при увеличении концентрации платины до $\sim$0.5 $\cdot$ 10$^{22}$ ат./см$^3$ происходит увеличение среднего размера графеновых кластеров. При дальнейшем увеличении концентрации платины происходит уменьшение размеров графеновых кластеров.

Поступила в редакцию: 27.01.2010
Принята в печать: 12.02.2010

 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:8, 1074–1079

Реферативные базы данных:

•