RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 6, страницы 853–856 (Mi phts8854)

Эта публикация цитируется в 7 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Исследование влияния отжига на структуру пленок Bi$_2$Te$_3$–Bi$_2$Se$_3$

Н. М. Абдуллаев, С. И. Мехтиева, Н. Р. Меммедов, М. А. Рамазанов, А. М. Керимова

Институт физики им. Г.М. Абдуллаева Национальной академии наук Азербайджана, Аз-1143 Баку, Азербайджан

Аннотация: Исследована динамика кристаллизации пленочных поликристаллов системы твердого раствора Bi$_2$Te$_3$–Bi$_2$Se$_3$, отожженных при температуре 200–230$^\circ$C. Показано, что в зависимости от времени и температуры отжига наблюдается образование упорядоченных блоков размером 70–150 нм.

Поступила в редакцию: 11.11.2009
Принята в печать: 16.11.2009


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:6, 824–827

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026