RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 6, страницы 845–852 (Mi phts8853)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Получение гетероструктур на основе нанокристаллических слоев политипов карбида кремния

А. В. Семеновa, А. В. Лопинa, В. М. Пузиковa, В. Н. Баумерa, И. Н. Дмитрукb

a Институт монокристаллов НАН Украины, г. Харьков
b Институт физики НАН Украины, г. Киев

Аннотация: Показана возможность формирования гетероструктуры, состоящей из нанокристаллических слоев, – нижнего (на подложке) кубического политипа $3C$ и верхнего ромбоэдрического политипа $21R$ с использованием метода прямого ионного осаждения нанокристаллических пленок карбида кремния и градиентного нагрева подложек. Проведен детальный анализ структуры и последовательности расположения слоев карбида кремния с применением методов рентгеноструктурного анализа, фемтосекундной фотолюминесценции, оптической спектроскопии. Обсуждается природа максимумов, наблюдаемых в спектрах фотолюминесценции, оптического отражения и поглощения.

Поступила в редакцию: 10.11.2009
Принята в печать: 16.11.2009


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:6, 816–823

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026