RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 5, страницы 694–698 (Mi phts8828)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Особенности подпорогового дефектообразования в монокристаллах CdS и CdS : Cu при рентгеновском облучении

Г. Л. Мирончукa, Г. Е. Давидюкa, В. В. Божкоa, В. Кажукаускасb

a Волынский национальный университет им. Леси Украинки, 43025 Луцк, Украина
b Вильнюсский университет, LT-10222 Вильнюс, Литва

Аннотация: Представлены экспериментальные результаты исследования влияния электронной радиации с энергией электронов 230 кэВ, рентгеновских квантов в энергиями 8.06, 17.5 кэВ и закалки образцов на образование и перестройку центров медленной рекомбинации неравновесных носителей заряда (так называемых $r$-центров) в специально не легированных и легированных медью (N$_{\mathrm{Cu}}\approx$ 10$^{18}$ см$^{-3}$) монокристаллах CdS. Показано, что за $r$-центры ответственны дефекты в кадмиевой подрешетке кристалла, а именно вакансии V$_{\mathrm{Cd}}$ и близкие к ним по параметрам дефекты Cu$_{\mathrm{Cd}}$. При рентгеновском облучении как нелегированных, так и легированных Cu монокристаллов CdS имеет место подпороговое дефектообразование вакансий кадмия и Cu$_{\mathrm{Cd}}$ в местах искаженных и ослабленных межатомных связей – “слабых местах” возле крупных структурных повреждений решетки технологического или иного происхождения. Начиная с температуры закалки 170$^\circ$C заметное влияние на спектр центров медленной рекомбинации оказывают термообразованные V$_{\mathrm{Cu}}$ и вторичные дефекты Cu$_{\mathrm{Cd}}$. При температурах закалки больших 250$^\circ$C заметный вклад в спектр оптического гашения фотопроводимости вносят термовведенные свободные (вдали от структурных повреждений) $r$-центры – V$_{\mathrm{Cd}}$ и Cu$_{\mathrm{Cd}}$.

Поступила в редакцию: 07.07.2009
Принята в печать: 29.09.2009


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:5, 667–671

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026