Аннотация:
Исследована неустойчивость поверхностных
электромагнитных волн в структуре, содержащей полупроводник со
сверхрешеткой (CP) конечной толщины, находящейся в постоянном или
гармоническом электрическом поле. Механизм неустойчивости обусловлен наличием
областей отрицательной динамической проводимости в СР. Найдены спектры,
области неустойчивости и инкременты возбуждаемых волн.