Аннотация:
На основании результатов комплексных исследований (спектров фотолюминесценции, рентгеновской флуоресценции и инфракрасной спектроскопии) показаны особенности формирования спектров излучения при изменении типа и концентрации фоновых примесей (Fe, Cu, Si), появляющихся как при выращивании, так и при обработке объемных кристаллов шлифованием и полировкой. Особое внимание уделено концентрации и типам связей водорода – основной примеси, препятствующей формированию кристаллов с $p$-типом проводимости.
Поступила в редакцию: 30.07.2009 Принята в печать: 20.08.2009