Физика и техника полупроводников,
1987, том 21, выпуск 9,страницы 1654–1658(Mi phts874)
Воздействие электронов « допороговых» энергий
на
дефектообразование в приповерхностной области германия
В. М. Демидович, С. Н. Козлов, А. С. Король, М. В. Чукичев
Аннотация:
Исследовано воздействие электронов с энергией
7$-$50 кэВ на плотность поверхностных электронных состояний германия
и скорость рекомбинации неравновесных носителей заряда в приповерхностной
области. Показано, что возникающие в процессе облучения дефекты локализованы
в основном в приповерхностном слое полупроводника толщиной порядка или менее
0.1 мкм. Оценена скорость дефектообразования в этом слое под действием
низкоэнергетических электронов (${0.5\div5\,\text{см}^{-1}}$). Отмечены
факторы, способствующие тому, что эффективность дефектообразования
в приповерхностной области полупроводника на несколько порядков больше,
чем в объеме. Обсуждаются возможные механизмы дефектообразования.