RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2010, том 44, выпуск 1, страницы 96–100 (Mi phts8730)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Варизонная активная область на основе короткопериодных InGaN/GaN-сверхрешеток для мощных светоизлучающих диодов диапазона 440–470 нм

А. Ф. Цацульниковab, В. В. Лундинab, А. В. Сахаровab, Е. Е. Заваринab, С. О. Усовab, А. Е. Николаевab, Н. А. Черкашинac, Б. Я. Берa, Д. Ю. Казанцевa, М. Н. Мизеровb, Hee Seok Parkd, M. Hytchc, F. Huec

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур РАН, г. Санкт-Петербург
c Center for Material Elaboration & Structural Studies of the National Center for Scientific Research, 31055 Toulouse, France
d Samsung Electro-Mechanics Co. Ltd., Suwon, Gyunggi-Do, Korea

Аннотация: Представлены результаты исследований структурных и оптических свойств светодиодных структур с активной областью на основе сверхтонких InGaN-квантовых ям, ограниченных с обеих сторон короткопериодными сверхрешетками InGaN/GaN. Исследованы зависимости эффективности излучения от дизайна активной области. Показано, что использование InGaN/GaN в качестве ограничивающих варизонных короткопериодных сверхрешеток позволяет существенно увеличить квантовую эффективность излучения.

Поступила в редакцию: 08.06.2010
Принята в печать: 15.06.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2010, 44:1, 93–97

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026