Аннотация:
Рассчитаны спектры оптического поглощения с участием
уровней оборванных связей ($D$-центров) и разрешенных зон в аморфных
полупроводниках. Учтены локальные эффекты межэлектронной корреляции
и электрон-фононного взаимодействия, а также случайный
разброс «затравочных» одноэлектронных энергий. Измеряя
«примесное» оптическое поглощение различным образом легированных
аморфных материалов с эффективной двухэлектронной корреляционной
энергией ${U_{\text{эфф}} > 0}$, можно однозначно определить положение
уровней $D$-центров и их микроскопические параметры. Сопоставление
с экспериментом показывает, что в $a$-Si : Н характерное размытие
уровней оборванных связей не превышает 0.15 эВ.
Кроме того, $D$-центры в этом материале характеризуются значением
${U_{\text{эфф}}=0.4\,\text{эВ}>0}$ и значительным поляронным сдвигом
${0.25 < W < 0.4}$ эВ. Последнее обстоятельство указывает на необходимость
учета электрон-фононного уширения оптических спектров $a$-Si : Н при
интерпретации экспериментальных данных.