Аннотация:
С помощью низкотемпературной фотолюминесценции и электрофизических измерений исследован нелегированный теллурид кадмия, полученный в различных режимах быстрой кристаллизации из паровой фазы при температурах 420–600$^\circ$C. Показано, что, несмотря на сравнительно большую скорость роста ($\sim$1 мкм/с), основные параметры, характеризующие решетку и зонную структуру материала, близки к литературным значениям для монокристаллического CdTe. Тип проводимости полученных кристаллов определяется водородоподобными донорами и акцепторами, связанными с фоновыми примесями. Помимо фоновых примесей в текстурах $n$-типа обнаружены компенсирующие акцепторы с нестандартными энергиями активации 48.5 $\pm$ 0.5, 98.0 $\pm$ 0.5 и 119.5 $\pm$ 0.5 мэВ. Показано, что сочетание пониженной температуры роста и избытка теллура приводит к резкому увеличению концентрации глубоких электронных состояний и изоэлектронных дефектов с пониженной симметрией.
Поступила в редакцию: 28.12.2010 Принята в печать: 31.12.2010