RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2011, том 45, выпуск 3, страницы 419–424 (Mi phts8497)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние состава слоев SiO$_x$ на формирование в них светоизлучающих наноструктур Si под действием быстрых тяжелых ионов

Г. А. Качуринa, С. Г. Черковаa, Д. В. Маринa, В. Г. Кеслерa, В. А. Скуратовb, А. Г. Черковa

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Объединенный институт ядерных исследований, г. Дубна Московской обл.

Аннотация: Слои SiO$_x$ переменного состава с 0 $<x<$ 2 облучали ионами Xe с энергией 167 МэВ, дозой 10$^{14}$ см$^{-2}$ для стимулирования формирования светоизлучающих кремниевых наноструктур. Облучение вызвало появление полосы фотолюминесценции, зависящей от $x$. С увеличением содержания Si фотолюминесценция вначале росла с максимумом вблизи длины волны $\lambda\approx$ 600 нм, а затем максимум смещался к $\lambda\approx$ 800 нм. Сделан вывод, что источниками излучения являются квантово-размерные нановыделения, образующиеся в результате диспропорционирования SiO$_x$ в треках ионов благодаря высоким ионизационным потерям. Изменения фотолюминесценции с ростом $x$ объясняются увеличением вначале вероятности формирования нановыделений, а затем и их размеров, что приводит к длинноволновому сдвигу. Последующее гашение люминесценции обусловлено снятием квантово-размерных ограничений и коагуляцией.

Поступила в редакцию: 24.08.2010
Принята в печать: 30.08.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2011, 45:3, 408–414

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026