RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2011, том 45, выпуск 3, страницы 360–364 (Mi phts8488)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Исследование процесса карбонизации и окисления пористого кремния методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и ИК-спектроскопии

А. В. Васинa, П. Н. Охолинa, И. Н. Веровскийa, А. Н. Назаровa, В. С. Лысенкоa, К. И. Холостовb, В. П. Бондаренкоb, Y. Ishikawac

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, г. Киев
b Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, 220013 Минск, Белоруссия
c Japan Fine Ceramics Center, 456-8587 Nagoya, Japan

Аннотация: Слои пористого кремния были получены методом электрохимического травления пластин монокристаллического кремния с удельным сопротивлением 10 Ом $\cdot$ см в водно-спиртовом растворе плавиковой кислоты. Методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и спектроскопии поглощения в инфракрасном диапазоне исследованы процессы взаимодействия пористого кремния с неразбавленным ацетиленом при низкой температуре и окисления карбонизированного пористого кремния парами воды. Установлено, что уже при температуре 550$^\circ$C на поверхности пор образуются кремний-углеродные связи и формируется графитоподобный углеродный конденсат. Показано, что углеродный конденсат препятствует процессу окисления пористого кремния парами воды и способствует гашению белой фотолюминесценции в нанокомпозитном слое окисленного карбонизированного пористого кремния.

Поступила в редакцию: 05.08.2010
Принята в печать: 25.08.2010


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2011, 45:3, 350–354

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026