RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 10, страницы 1363–1367 (Mi phts8357)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Электрические и оптические свойства пленок CdHgTe, выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией на кремниевых подложках

И. И. Ижнинa, К. Д. Мынбаевb, М. В. Якушевc, А. И. Ижнинa, Е. И. Фицычd, Н. Л. Баженовb, А. В. Шиляевb, Г. В. Савицкийa, R. Jakielae, А. В. Сорочкинb, В. С. Варавинb, С. А. Дворецкийb

a Научно-производственное предприятие "Карат", 79031 Львов, Украина
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 632090 Новосибирск, Россия
d Львовский национальный университет им. И. Франко, 79000 Львов, Украина
e Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 02-668 Warsaw, Poland

Аннотация: Исследованы электрические и оптические свойства эпитаксиальных пленок CdHgTe, выращенных на кремниевых подложках методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Данные измерений фотолюминесценции указывают на высокое структурное совершенство пленок, а данные исследования эффекта Холла в сочетании с низкоэнергетической ионной обработкой – на низкую концентрацию остаточных доноров ($\sim$5 $\cdot$ 10$^{14}$ см$^{-3}$). В пленках выявлено наличие акцепторных состояний, предположительно связанных с захватом примесей на структурные дефекты, типичные для сильно рассогласованных гетероэпитаксиальных структур.

Поступила в редакцию: 27.03.2012
Принята в печать: 02.04.2012


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:10, 1341–1345

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026