Аннотация:
Методом нестационарной спектроскопии глубоких уровней исследовано влияние предварительной подготовки подложек на спектр электронных состояний диодов Шоттки Au/$n$-GaAs(100). Обнаружены две полосы распределенных по энергии состояний вблизи границы раздела металл–полупроводник. Полоса состояний, проявляющаяся в спектрах при температурах 200–300 K, объясняется присутствием на поверхности кластеров элементарного As, который скапливается в ходе оксидообразования при выдержке образцов на воздухе. Разупорядочением поверхности в процессе селективного травления объясняется появление полосы состояний, проявляющейся в диапазоне 100–250 K. Отжиг в парах селена залечивает дефекты приповерхностной области и удаляет обе полосы состояний из спектров. Отожженные в Se$_2$ образцы содержат только набор уровней, характерных для объема GaAs.
Поступила в редакцию: 23.11.2011 Принята в печать: 08.12.2011