RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 5, страницы 613–615 (Mi phts8228)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Электрофизические свойства твердых растворов серебра в PbTe

М. К. Шаров

Воронежский государственный университет, 394006 Воронеж, Россия

Аннотация: Измерены коэффициент термоэлектродвижущей силы $\alpha_0$ и удельная электропроводность $\sigma$ твердых растворов Pb$_{1-x}$Ag$_x$Te, где $x$ = (0–0.007) при $T$ = 300 K. Рассчитана концентрация дырок $p$.
Все образцы имели дырочный тип проводимости. При увеличении содержания серебра $\alpha_0$ падает, a $p$ и $\sigma$ растут. Для нелегированных кристаллов $\alpha_0$ = 251.0 мкВ/K, $p$ = 1.1 $\cdot$ 10$^{18}$ см$^{-3}$, $\sigma$ = 165 Ом$^{-1}$ $\cdot$ см$^{-1}$. На границе растворимости серебра при $x$ = 0.007, $\alpha_0$ = 193.8 мкВ/K, $p$ = 2.3 $\cdot$ 10$^{18}$ см$^{-3}$, $\sigma$=216 Ом$^{-1}$ $\cdot$ см$^{-1}$. Концентрация дырок во всех образцах намного меньше концентрации введенных атомов серебра. Дырочный газ в твердых растворах Pb$_{1-x}$Ag$_x$Te является слабо вырожденным во всей области концентраций серебра.

Поступила в редакцию: 25.10.2011
Принята в печать: 17.11.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:5, 595–597

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026