RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 5, страницы 609–612 (Mi phts8227)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Фазовые переходы в тонких пленках халькогенидов Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$ по данным комбинационного рассеяния света

А. П. Авачевa, С. П. Вихровa, Н. В. Вишняковa, С. А. Козюхинb, К. В. Митрофановa, Е. И. Теруковc

a Рязанский государственный радиотехнический университет, 390005 Рязань, Россия
b Институт общей и неорганической химии им. Н. С. Курнакова РАН, 119991 ГСП-1 Москва, Россия
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Представлено исследование спектров комбинационного рассеяния света в тонких пленках халькогенидных полупроводников состава Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$ с целью определения температур фазовых переходов, происходящих при воздействии лазерного излучения.

Поступила в редакцию: 18.10.2011
Принята в печать: 31.10.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:5, 591–594

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026