RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 1, страницы 134–139 (Mi phts8134)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Естественные неоднородности в распределении туннельного тока по площади обратносмещенного кремниевого $p$$n$-перехода

В. А. Козловa, С. В. Оболенскийb, В. Б. Шмагинa, З. Ф. Красильникa

a Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Методом Монте-Карло рассчитаны распределения электрического поля, потенциала и вероятности межзонного туннелирования по площади обратносмещенного $p$$n$-перехода с учетом дискретности распределения заряда ионизованных доноров и акцепторов. Расчеты выполнены в трехмерном приближении на основе принципа суперпозиции электрических полей пар ионов “ионизованный донор-ионизованный акцептор”. Показано, что в области скопления трех и более пар ионов с характерным расстоянием между ними около половины длины волны де Бройля наблюдается увеличение вероятности туннелирования, связанное с локальным увеличением напряженности электрического поля.

Поступила в редакцию: 30.06.2011
Принята в печать: 11.07.2011


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2012, 46:1, 130–135

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026