Аннотация:
Представлены решения для повышения радиационной стойкости фотоэлектрических преобразователей на основе метаморфных In$_x$Ga$_{1-x}$As-гетероструктур со встроенным брегговским отражателем, оптимизированных на эффективное преобразование мощного лазерного излучения с длиной волны 1000–1100 нм. Получены экспериментальные зависимости деградации фотоэлектрических параметров преобразователей от дозы (флюенса) электронов с энергиями 2 и 4.5 МэВ.