RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 12, страницы 1681–1686 (Mi phts8100)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Спектральная зависимость фактора уширения линии в лазерах на квантовых точках

Ф. И. Зубовa, Ю. М. Шерняковab, М. В. Максимовab, А. Е. Жуковa, Д. А. Лившицc, А. С. Паюсовb, А. М. Надточийb, А. В. Савельевa, Н. В. Крыжановскаяa, Н. Ю. Гордеевab

a Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Innolume GmbH, 44263 Дортмунд, Германия

Аннотация: С помощью анализа спектров усиленного спонтанного излучения определен фактор спектрального уширения линии ($\alpha$-фактор) в лазерах на основе квантовых точек InAs/InGaAs в широком спектральном диапазоне вблизи энергии основного оптического перехода. Изучено влияние тока накачки и числа слоев квантовых точек на спектральные зависимости $\alpha$-фактора. Впервые для лазеров с квантовыми точками InAs/InGaAs экспериментально определена температурная зависимость спектров $\alpha$-фактора. Предложено объяснение наблюдавшемуся аномальному уменьшению $\alpha$-фактора с ростом температуры.

Поступила в редакцию: 15.05.2013
Принята в печать: 27.05.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:12, 1656–1660

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026