RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2025, том 59, выпуск 4, страницы 199–204 (Mi phts7956)

Международная конференция ФизикА.СПб/2025

Модификация поверхности CdS при нанесении и отжиге структурированного металлом органического покрытия

С. В. Стецюраa, П. Г. Харитоноваa, А. В. Козловскийb

a Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского, 410012 Саратов, Россия
b Сaнкт-Петербургский политехнических университет Петра Великого, 195251 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Для изучения модификации поверхности пластины сульфида кадмия при нанесении и отжиге покрытия из арахината железа были проведены исследования методом атомно-силовой микроскопии в режиме амплитудной модуляции сигнала с получением изображений как рельефа поверхности, так и распределений сигналов рассогласования цепи обратной связи и фазового контраста. Показано, что совместное применение колебательных методик атомно-силовой микроскопии позволило охарактеризовать все этапы создания разбавленного полумагнитного полупроводникового материала СdS : Fe, и выявить новые особенности исследуемых поверхностей путем анализа статистических параметров, полученных со сканов атомно-силовой микроскопии.

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, сульфид кадмия, арахинат железа, модификация поверхности.

Поступила в редакцию: 05.05.2025
Исправленный вариант: 18.06.2025
Принята в печать: 22.06.2025

DOI: 10.61011/FTP.2025.04.61249.8036



© МИАН, 2026