Аннотация:
Для изучения модификации поверхности пластины сульфида кадмия при нанесении и отжиге покрытия из арахината железа были проведены исследования методом атомно-силовой микроскопии в режиме амплитудной модуляции сигнала с получением изображений как рельефа поверхности, так и распределений сигналов рассогласования цепи обратной связи и фазового контраста. Показано, что совместное применение колебательных методик атомно-силовой микроскопии позволило охарактеризовать все этапы создания разбавленного полумагнитного полупроводникового материала СdS : Fe, и выявить новые особенности исследуемых поверхностей путем анализа статистических параметров, полученных со сканов атомно-силовой микроскопии.