Аннотация:
Исследованы электронные состояния системы "квантовая точка–монослой графена–подложка SiO$_2$+$n^+$-Si" во внешнем магнитном поле. Получено аналитическое выражение для величины переходящего заряда в такой системе. Рассмотрены электронные состояния системы "квантовая точка–бислой графена–подложка SiO$_2$+$n^+$-Si". Исследуемые системы интересны с точки зрения возможности управления оптическими свойствами квантовой точки с помощью приложенного электрического поля.
Поступила в редакцию: 24.05.2012 Принята в печать: 28.08.2012