Эта публикация цитируется в 1 статье

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Влияние стехиометрического состава поверхностной фазы Si(111)$\sqrt{21}\times\sqrt{21}$-(Au, Ag) на электрическую проводимость подложки

Д. А. Цуканов^a, М. В. Рыжкова^b, Е. А. Борисенко<sup>b

a</sup> Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток
^b Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток

Аннотация: Исследована электрическая проводимость подложки кремния с поверхностной фазой Si(111)$\sqrt{21}\times\sqrt{21}$-(Au, Ag). Обнаружено, что в зависимости от соотношения количества золота и серебра в данной структуре поверхностная проводимость такой подложки различается. Анализ поведения проводимости поверхности Si(111)$\sqrt{21}\times\sqrt{21}$-(Au, Ag) при адсорбции серебра свидетельствует о влиянии слоя пространственного заряда в приповерхностной области подложки на результаты измерений.

Поступила в редакцию: 30.07.2012
Принята в печать: 13.08.2012

 Англоязычная версия: Semiconductors, 2013, 47:6, 775–781

Реферативные базы данных:

•