RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 11, страницы 1549–1554 (Mi phts7754)

Физика полупроводниковых приборов

Биосенсоры на основе регистрации матрицы проводимости мультиконтактных полупроводниковых наноструктур

Э. Ю. Даниловскийa, Н. Т. Баграевab, А. Л. Черневc, Д. С. Гецa, Л. Е. Клячкинa, А. М. Маляренкоa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
c Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет), 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Метод регистрации матриц проводимости анализируется с целью изучения свойств кремниевых наноструктур, выполненных в рамках холловской геометрии на поверхности Si (100) $n$-типа и представляющих собой сверхузкие кремниевые квантовые ямы $p$-типа, ограниченные $\delta$-барьерами, сильно легированными бором. В рамках предлагаемого подхода полный ток, протекающий через мультиконтактную кремниевую наноструктуру, записывается в матричной форме как $\mathbf{I}=\mathbf{G}\cdot\mathbf{V}$, где $\mathbf{I}$ и $\mathbf{V}$ – столбцы токов и напряжений для каждого из $N$ контактов, $\mathbf{G}$ – матрица проводимости размерности $N\times N$, однозначно описывающая проводимость исследуемой структуры с учетом вклада сопротивления контактных площадок. Демонстрируется высокая чувствительность матричных элементов к изменению состояния поверхности кремниевой наноструктуры в условиях осаждения раствора ацетата натрия, содержащего одноцепочные синтетические олигонуклеотиды. Обсуждаются перспективы практического применения полученных результатов при разработке современных биосенсеров на основе регистрации матрицы проводимости мультиконтактных полупроводниковых наноструктур.

Поступила в редакцию: 24.04.2014
Принята в печать: 15.05.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:11, 1512–1517

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026