RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 10, страницы 1344–1347 (Mi phts7717)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Механизм протекания тока в омическом контакте Au–Ti–Al–Ti–n$^+$-GaN в интервале температур 4.2–300 K

А. В. Саченкоa, А. Е. Беляевa, Н. С. Болтовецb, Р. В. Конаковаa, Л. М. Капитанчукc, В. Н. Шереметa, Ю. Н. Свешниковd, А. С. Пилипчукe

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, 03028 Киев, Украина
b Государственное предприятие НИИ "Орион", 03057 Киев, Украина
c Институт электросварки им. Е. О. Патона НАН Украины, 03068 Киев, Украина
d ЗАО "Элма Малахит", 124460 Зеленоград, Москва, Россия
e Институт физики НАН Украины, 03028 Киев, Украина

Аннотация: Экспериментально исследована и теоретически объяснена температурная зависимость удельного контактного сопротивления $\rho_c(T)$ омических контактов Au–Ti–Al–Ti–n$^+$-GaN в диапазоне температур $T$ = 4.2–300 K. Показано, что в низкотемпературной области измерений (4.2–50 K) наблюдается участок насыщения $\rho_c(T)$. С повышением температуры величина $\rho_c$ уменьшается по экспоненциальному закону. Экспериментальная и расчетная зависимости $\rho_c(T)$ согласуются между собой. Полученные результаты позволяют сделать вывод о полевой природе токопереноса на участке насыщения $\rho_c(T)$ и термополевой – на экспоненциальном.

Поступила в редакцию: 21.10.2013
Принята в печать: 28.11.2013


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2014, 48:10, 1308–1311

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026