Аннотация:
Проводится сравнение радиационной стойкости на примере карбида кремния и кремния. Показано, что одна из основных характеристик радиационной стойкости полупроводника – скорость удаления носителей $(V_d)$, в случае широкозонных полупроводников будет сильно зависеть от условий ее измерения. Сделан вывод, что сравнение величин $V_d$, полученных при комнатной температуре для Si и SiC, не является полностью корректным с физической точки зрения.
Поступила в редакцию: 18.03.2014 Принята в печать: 26.03.2014