Аннотация:
Исследованы особенности диэлектрической проницаемости
полупроводников с вырожденной зонной структурой (материалы
$p$-типа, бесщелевые полупроводники), возникающие при одноосной
деформации, когда снимается вырождение зон. Рассмотрен случай сжатия
изотропной модели полупроводника, для которого вычислены спектральные
зависимости продольного и поперечного коэффициентов поглощения
и диэлектрической проницаемости. Оценки показывают возможность
экспериментального наблюдения этих особенностей [пика поглощения на дырках,
края фундаментального поглощения деформированного бесщелевого
полупроводника и соответствующих спектральных
зависимостей Re $\varepsilon_{\parallel,\perp}(\omega)$] в далеком ИК
диапазоне.