Аннотация:
Сообщается о получении методом молекулярно-пучковой эпитаксии гетероструктур А$^{\mathrm{III}}$В$^{\mathrm{V}}$/А$^{\mathrm{II}}$В$^{\mathrm{VI}}$ : Mn с высокой концентрацией дырок в двумерном канале AlGaAs:Be/GaAs/AlGaAs, расположенном в непосредственной близости от гетеровалентного интерфейса AlGaAs/Zn(Mn)Se. Несмотря на снижение концентрации дырок в GaAs-канале при уменьшении расстояния между каналом и гетеровалентным интерфейсом, концентрация дырок достигает 1.5 $\cdot$ 10$^{13}$ см$^{-2}$ при температуре 300 K даже при минимальном расстоянии 1.2 нм. С помощью глубинного профилирования методом динамической масс-спектроскопии вторичных ионов подтверждена обратная диффузия Mn из ZnMnSe в А$^{\mathrm{III}}$В$^{\mathrm{V}}$ часть. Сочетание высокой концентрации дырок и наличия магнитных ионов марганца в GaAs-канале проводимости определяет интерес к разработанным структурам как возможным объектам исследования эффектов магнитного упорядочения в гетерогенных полупроводниковых системах.
Поступила в редакцию: 28.05.2013 Принята в печать: 04.06.2013