Эта публикация цитируется в 1 статье

Углеродные системы

Применение вейвлет-преобразования к задаче обнаружения и определения положений лоренцианов $2D$ полосы рамановского спектра двухслойного графена

Т. Е. Тимофеева, С. А. Смагулова, В. И. Попов

Северо-Восточный федеральный университет им. М. К. Аммосова, 677000 Якутск, Россия

Аннотация: Показана возможность количественного определения числа слоев графена путем применения интегрального вейвлет-преобразования. Интегральное вейвлет-преобразование применено для обработки $2D$ полосы рамановских спектров однослойного графена и двухслойного графена, полученных микромеханическим отщеплением от графита и перенесенных на подложку SiO$_2$/Si. В результате применения вейвлет преобразования обнаружены скрытые лоренцевы пики в составе $2D$ полосы, определены их количество и положения. Координаты максимумов лоренцианов, полученные в результате вейвлет-преобразования, совпадают с данными литературы. Число обнаруженных лоренцианов подтверждает теорию возникновения этих пиков за счет процесса двойного резонанса и расщепления зонной структуры двухслойного графена.

Поступила в редакцию: 13.05.2014
Принята в печать: 16.12.2014

 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:6, 814–818

Реферативные базы данных:

•