RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 3, страницы 421–425 (Mi phts7247)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Формирование нанокристаллов кремния в многослойных нанопериодических структурах Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/Al$_2$O$_3$/ SiO$_x$/$\dots$/Si(100) по данным синхротронных исследований и фотолюминесценции

С. Ю. Турищевa, В. А. Тереховa, Д. А. Коюдаa, Д. Е. Спиринa, Е. В. Париноваa, Д. Н. Нестеровa, Д. А. Грачевb, И. А. Карабановаb, А. В. Ершовb, А. И. Машинb, Э. П. Домашевскаяa

a Воронежский государственный университет
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского

Аннотация: Представлены результаты исследования методом спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения ($X$-ray absorption near edge structure spectroscopy technique, XANES) с использованием синхротронного излучения многослойных нанопериодических структур (МНС) Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/Al$_2$O$_3$/SiO$_x$/$\dots$/Si(100), отожженных при температурах 500–1100$^\circ$C. По данным XANES, обнаружена модификация структур под действием высокотемпературного ($\sim$ 1100$^\circ$C) отжига, объясняемая формированием нанокристаллов кремния в глубинных слоях. При этом наноструктуры характеризовались интенсивной размерно-зависимой фотолюминесценцией в области энергий $\sim$ (1.4–1.52) эВ.

Поступила в редакцию: 22.04.2014
Принята в печать: 12.05.2014


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2015, 49:3, 409–413

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026