Эта публикация цитируется в
1 статье
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Исследование особенностей нанесения нанослоев Al$_2$O$_3$ методом атомно-слоевого осаждения на структурированные пленки ITO
Л. К. Марковa,
А. С. Павлюченкоa,
И. П. Смирноваa,
М. В. Мешb,
Д. С. Колоколовb,
А. П. Пушкаревc a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b АО "СКТБ Кольцова", 198097 Санкт-Петербург, Россия
c Университет ИТМО (физический факультет), 197101 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Изучались просветляющие наноструктурированные покрытия ITO/Al
$_2$O
$_3$, имеющие градиент эффективного показателя преломления в направлении, перпендикулярном плоскости подложки. Исследуемые покрытия были получены методом атомно-слоевого осаждения оксида алюминия на структурированные пленки ITO. Средствами просвечивающей электронной микроскопии показано, что осажденный наноразмерный слой оксида алюминия обладает хорошим качеством и равномерно обволакивает нитевидные кристаллы ITO. Как оказалось в экспериментах, толщина получаемого слоя Al
$_2$O
$_3$ зависит от толщины и, как следствие, степени развитости поверхности исходной пленки ITO. Получаемые толщины могут быть в несколько раз тоньше, чем планировалось в эксперименте, исходя как из расчетов параметров процесса атомно-слоевого осаждения, так и из непосредственных измерений скорости осаждения оксида алюминия на пленки неструктурированного ITO. Возможной причиной, влияющей на скорость роста слоя Al
$_2$O
$_3$ в наноструктурированных пленках ITO, является сильный рост площади поверхности пленки ITO при ее структурировании. Так, оценка для пленки структурированного ITO толщиной 700 нм, проведенная на основе данных просвечивающей и сканирующей микроскопии, показала, что площадь ее поверхности более чем в 20 раз превышает площадь гладкой пленки.
Ключевые слова:
нанослои Al
$_2$O
$_3$, ITO, наноструктурированные покрытия.
Поступила в редакцию: 08.04.2022
Исправленный вариант: 05.05.2022
Принята в печать: 02.06.2022
DOI:
10.21883/FTP.2022.08.53153.9856