RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2022, том 56, выпуск 8, страницы 802–807 (Mi phts7104)

XXVI Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" , Нижний Новгород, 14-17 марта 2022г.

Определение типов оптических переходов и концентраций доноров и акцепторов в GaN по зависимости интенсивности фотолюминесценции от мощности возбуждения

И. В. Осинныхab, И. А. Александровa, Т. В. Малинa, К. С. Журавлевa

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Представлены результаты расчетной и экспериментальной зависимостей интенсивности фотолюминесценции от плотности мощности возбуждения для легированных кремнием слоев GaN, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Показано, что анализ зависимости интенсивности фотолюминесценции от плотности мощности возбуждения с помощью модели электронных переходов в GaN при межзонной генерации электронно-дырочных пар позволяет определить механизм рекомбинации и концентрации доноров и акцепторов в полупроводнике.

Ключевые слова: GaN, аммиачная МЛЭ, фотолюминесценция, гетероструктуры, точечные дефекты.

Поступила в редакцию: 02.03.2022
Исправленный вариант: 25.03.2022
Принята в печать: 25.03.2022

DOI: 10.21883/FTP.2022.08.53148.34



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026