RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2024, том 58, выпуск 11, страницы 612–619 (Mi phts6813)

XVI Российская конференция по физике полупроводников, 7-11 октября 2024 г., Санкт-Петербург

Влияние свойств структурированной поверхности подложки на морфологию планарных нанопроволок GaAs (моделирование Монте-Карло)

С. В. Манцуроваab, А. А. Спиринаa, Н. Л. Шварцab

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Новосибирский государственный технический университет, 630087 Новосибирск, Россия

Аннотация: Исследовано моделирование методом Монте-Карло самокаталитического роста планарных нанопроволок GaAs по механизму пар-жидкость-кристалл на подложках GaAs, покрытых структурированной пленкой-маской. Под структурированной пленкой-маской подразумевается слой со свойствами оксида кремния с заранее заданной геометрией в виде канавок разной глубины, ширины и скважности. Проведен анализ влияния свойств структурированной пленки-маски на характер роста и морфологию планарных нанопроволок GaAs. Выявлен диапазон интенсивностей потоков галлия и мышьяка, в котором наблюдался стабильный рост планарных нанопроволок GaAs. Найдены условия перехода от роста по механизму пар–жидкость–кристалл к росту планарной нанопроволоки без капли, что позволяет получить бездефектные нанопроволоки по всей длине канавки.

Ключевые слова: планарные нанопроволоки, GaAs, структурированная поверхность, моделирование, Монте-Карло.

Поступила в редакцию: 05.12.2024
Исправленный вариант: 06.12.2024
Принята в печать: 06.12.2024

DOI: 10.61011/FTP.2024.11.59484.20S



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026