Международная конференция ФизикА.СПб/2024, 21-25 октября 2024 г., Санкт-Петербург

Инфракрасное фотоотражение эпитаксиальных пленок Cd$_{0.3}$Hg$_{0.7}$Te

М. С. Ружевич^a, К. Д. Мынбаев^ab, Д. Д. Фирсов^c, И. В. Чуманов^c, О. С. Комков^c, В. С. Варавин^d, М. В. Якушев<sup>d

a</sup> Университет ИТМО, 197101 Санкт-Петербург, Россия
^b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
^c Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина), 197376 Санкт-Петербург, Россия
^d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Представлены результаты исследования фотоотражения пленок Cd$_{0.3}$Hg$_{0.7}$Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Проведено сопоставление результатов измерения фотоотражения с данными исследования фотолюминесценции и оптического пропускания пленок после роста и после различных видов отжига. Для пленок после отжига обнаружено улучшение качества, выражающееся в уменьшении полуширины пика фотоотражения.

Ключевые слова: твердые растворы, CdHgTe, фотоотражение.

Поступила в редакцию: 02.05.2024
Исправленный вариант: 05.09.2024
Принята в печать: 30.10.2024

DOI: 10.61011/FTP.2024.10.59377.6488A

Реферативные базы данных:

•