RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2024, том 58, выпуск 5, страницы 256–262 (Mi phts6750)

Спектроскопия, взаимодействие с излучениями

Детектирование парамагнитных центров рекомбинации на поверхности пластин кремния

Л. С. Власенко

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методами спин-зависимой рекомбинации и детектирования резонансного изменения микроволновой фотопроводимости исследованы спектры электронного парамагнитного резонанса центров, возникающих на поверхности пластин кремния с ориентацией (111), (110) и (100) после их естественного окисления на воздухе. Установлены основные закономерности поведения спектров парамагнитного резонанса в различных экспериментальных условиях, таких, как температура, интенсивность освещения, мощность микроволнового резонансного поля. Показано, что основными центрами спин-зависимой рекомбинации являются оборванные связи атомов кремния, локализованные на границе Si/SiO$_2$ на поверхностях (111) и (110), и пары оборванных связей на поверхности (100).

Ключевые слова: кремний, поверхность, спин-зависимая рекомбинация, электронный парамагнитный резонанс.

Поступила в редакцию: 20.05.2024
Исправленный вариант: 20.06.2024
Принята в печать: 05.07.2024

DOI: 10.61011/FTP.2024.05.58762.6715



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026