RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2017, том 51, выпуск 4, страницы 507–511 (Mi phts6185)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Влияние гамма-облучения на фотолюминесценцию пористого кремния

М. А. Елистратоваab, Н. М. Романовac, Д. Н. Горячевb, И. Б. Захароваa, О. М. Среселиb

a Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Lappeenranta University of Technology, Lappeenranta, Finland

Аннотация: Исследовано влияние гамма-облучения на люминесцентные свойства пористого кремния, полученного электрохимическим методом. Регистрировались изменения фотолюминесценции между дозами облучения и в течение нескольких дней после последнего облучения. Обнаружено гашение фотолюминесценции при небольших дозах облучения и восстановление ее после дальнейшего облучения. Выявлено сильное окисление пористого кремния после гамма-облучения, продолжающееся в течение нескольких дней после облучения. Предполагается, что изменение спектров и интенсивности фотолюминесценции пористого кремния после гамма-облучения обусловлено изменением типа пассивации пористой поверхности: вместо водородной пассивации наблюдается более стабильная кислородная. Для стабилизации спектров фотолюминесценции пористого кремния предложено использовать фуллерен. У образца пористого кремния со слоем термически напыленного фуллерена не обнаружено значительных изменений спектров фотолюминесценции во время облучения и в течение 18 дней после него. Показана стабильность к гамма-облучению и окислению образцов пористого кремния с напыленным слоем C$_{60}$.

Поступила в редакцию: 16.10.2016
Принята в печать: 21.11.2016

DOI: 10.21883/FTP.2017.04.44343.8451


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2017, 51:4, 483–487

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026