Аннотация:
Методом численного моделирования найдено неравновесное распределение дефектов по энергиям колебаний, устанавливающееся
в стационарных условиях за счет многофононной рекомбинации электронно-дырочных пар. При этом предполагается, что концентрация
неравновесных носителей контролируется внешним источником возбуждения и рекомбинационными процессами (включая в себя излучательные и оже-процессы). Показано, что в полупроводнике $n$-типа при увеличении концентрации неравновесных дырок экспоненциально нарастает “хвост” функции распределения, что в эксперименте может проявиться как уменьшение энергии
активации при рекомбинационно-стимулированном отжиге дефектов.
Поступила в редакцию: 29.04.1992 Принята в печать: 07.05.1992