Аннотация:
С использованием введенных ранее представлений о режимах конденсации различных SiH$_{q}$-комплексов (${q=0}$, 1, 2, 3)
рассматривается новый вариант одной из гипотез о природе эффекта псевдолегирования. Приведены полученные различными методами результаты экспериментальных исследований характеристик спектра плотности состояний в диапазоне от уровня Ферми до (приблизительно) середины валентной зоны. С помощью соотношений “диэлектрической теории” полупроводника определено (вызванное варьированием условий приготовления) изменение среднего значения первого координационного числа атомов кремния
в пленках $a$-Si : Н, полученных ВЧ распылением. На основе модели свободного газа валентных электронов оценено ожидаемое смещение положения уровня Ферми при псевдолегировании. Показано, что экспериментальные данные удовлетворительно согласуются
с рассматриваемым вариантом гипотезы.
Поступила в редакцию: 04.01.1992 Принята в печать: 11.02.1992