RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1986
, том 20,
выпуск 11,
страницы
2106–2108
(Mi phts476)
Краткие сообщения
Уточнение метода постоянного фототока для определения плотности локализованных состояний в
$a$
-Si : H
Е. И. Теруков
, Г. Мелл
, О. И. Коньков
,
А. А. Андреев
Полный текст:
PDF файл (469 kB)
©
МИАН
, 2026