Аннотация:
Предложен метод определения всех равновесных параметров глубоких объемных уровней (РП ГОУ) — типа уровня, степени вырождения, энергии, концентрации из температурной зависимости удельного сопротивления $\rho(T)$ — и получены критерии необходимой точности экспериментальных измерений для обеспечения однозначной интерпретации результатов. На серии
образцов $p$-InSb проведены измерения $\rho(T)$ в диапазоне ${78\div160}$ K в условиях, когда отклонения снимаемых значений
температуры $T$ от стационарных не превышают ${\pm0.01}$ K. С привлечением литературных данных по примесному поглощению и примесной фотопроводимости в InSb определены все РП трех доминирующих ГОУ. Эта система ГОУ одинакова для всех исследованных образцов и не зависит от технологии изготовления материала, что позволяет говорить о ее биографическом происхождении.
Поступила в редакцию: 17.07.1991 Принята в печать: 04.12.1991