Аннотация:
Представлены результаты исследования гетеропереходов,
образованных тонкой пленкой
высоколегированного широко зонного полупроводникового
соединения SnO$_{2}$ или In$_{2}$O$_{3}$
с фосфидом галлия. По результатам исследования
вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик
определены значения высоты потенциального барьера
и коэффициента идеальности.
Значение высоты барьера находится в согласии с
величиной, определенной из фотоэмиссионных
характеристик по методу Фаулера. Расчет оптических
характеристик гетеропереходов
подтверждает экспериментально полученное значение
внешней квантовой эффективности,
близкое по величине к 100 %.
Фотоэлектрические и электрофизические параметры
исследованных гетерофотодиодов представлены в
сравнении с коммерческими фотодиодами фирмы
«Hamamatsu».